TOPTICA Photonics AG - A passion for precision - www.toptica.com

TeraFlash smart

時間分解テラヘルツ測定用高速システム

  • 独自開発の ECOPS 技術: 高速, 高安定の電気的時間遅延を採用
  • 1つのシステムで2つのTHz発信/受信ペアを動作可能
  • スキャン周波数: 1秒間に1000パルストレース以上 (5000トレース / 秒を動作確認済)
  • テラヘルツアンテナにはファイバ結合型エミッタ/レシーバを採用
  • テラヘルツダイナミックレンジ: 最大測定スピードにて≥ 45 dB (平均化を行うことでさらに向上)

時間領域テラヘルツ技術 (TD-THz)は広範囲な新しいアプリケーションの可能性を開きます。基礎科学から非破壊検査、プラスチック部品検査、塗装膜検査、郵便物の安全性確認検査、半導体検査など様々な産業応用への展開が期待されます。しかしながら多くのTD-THz分光器では波形サンプリングのためにメカ的な遅延ステージを使用しており測定スピードの限界が実際の応用へのボトルネックになっています。

トプティカ社のTeraFlash smart は”電気的制御光学サンプリング”技術、一般的にECOPSとよばれる最新の技術を採用しています(技術的な詳細は下記の資料をご覧ください)。この技術スキームでは2台のフェムト秒レーザー発振器を用いてお互いのメカ的な遅延を相殺します。テラヘルツ発振器とアンテナはそれぞれのレーザーで個別に駆動されます。高速なフィードバック回路により”スレーブ”レーザーの繰り返し周波数は”マスター”レーザーに位相ロッキングされます。これと別に行われる変調により2台のレーザーのパルストレインに位相差を発生します。これにより”スレーブ”レーザーのパルスタイミングは周期的に加速または遅延します。一般的なメカ式遅延ステージを使用した際と同じ効果をもたらしますがデータ収集時間はなんと100倍高速に行うことが可能になります!

TeraFlash smart は高速に動的なサンプル(コンベアベルト上の製品検査、製紙ロール検査、射出成型ライン等)の測定に差最適で、高い空間分解能を求められるアプリケーションに特に向いています。またその他の有望なアプリケーションとして高速で変化する環境条件下での測定が上げられます。トプティカ社とToulouse大学が共同で行った原理実証のための研究ではピーク磁場強度が3Tのテーブル上の磁石によるパルス磁界内のサンプル特性の測定を行いました。ECOPSシステムでは5KHzの測定スピードを実現し、10テラヘルツ以上の波形信号を磁界パルスの変化の半値である2.5ms以内に測定するために十分な速度があることを確認しました。

 

現在の生産状況: 2018/2019年中の一般販売を予定しています。OEM組込み検討の際は別途お問合せ下さい。