Imaging Extension
Fast and Flexible Imaging Platform
- 測定スピード: 最大 16 pixel/sec
- 透過と反射モードの柔軟な構成
- 水平および垂直プロファイルのイメージ提供
- 時間ドメインと周波数ドメインの両方でのデータフィルタリングが可能
TeraFlash proのアクセサリであるImaging Extensionは、2つの精密なリニアステージを使用して、テラヘルツビームの焦点を通してサンプルをスキャンします。 並進運動はTeraFlash proのシェーカーと同期しているため、最大16pixel/secの高速測定が可能です。独自の光学部品を使用する研究者は "basic" バージョンが利用可能で、"complete" バージョンはビーム整形と焦点せのための放物面鏡を含んだバージョンです。
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Specifications
Basic Version Complete Version リニアステージ 2 ステージ + モーションコントローラー、 位置決め精度 < 0.2 mm テラヘルツオプティクス -- 4 ミラー, 透過と反射モードの設定が容易 テラヘルツアンテナ用マウント -- TXとRXのマウントを含む 測定速度 最大 16 pixel / sec @ 20 ps スキャンレンジ
位置決め精度 < 200 µm
最大視野 15 x 15 cm
試料重量 Max. 2 kg
入射角（反射セットアップ） N.A. ± 8 deg. データ取得 Shakerの動作とリニアステージの平行移動が同期 データフィルタリング 時間ドメイン、周波数ドメインどちらでも可能 コントラストパラメーター 振幅、位相、層厚、 選択された範囲のスペクトル振幅、横断面の振幅と高さプロファイル
- Applications
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Downloads
- 製品カタログ：Terahertz Systems
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Literature
- 学術論文: F. Rettich et al., Field intensity detection of individual terahertz pulses at 80 MHz repetition rate; J Infrared Milli. Terahz. Waves (2015)
- 学術論文: Vieweg et al., Terahertz-time domain spectrometer with 90 dB peak dynamic range, J Infrared Milli Terahz Waves, 2014
- Conference Abstract: Yahyapour et al., Non-Contact Thickness Measurements with Terahertz Pulses, WCNDT 2016
- 概要記事: Lang, M., et al., Laser-based terahertz generation & applications, Photonik International (2012)
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